Микроскоп Levenhuk 2ST, бинокулярный
Почта России (предоплата): 7-20 дней - 350 р.
|
Описание
|
|---|
|
Микроскоп Levenhuk 2ST – современный инструментальный микроскоп с большим рабочим расстоянием в 60 мм и увеличением 40х. Такое рабочее расстояние позволяет проводить исследование не только плоских микропрепаратов и тонких срезов, но и довольно крупных образцов – кусочков горных пород, ювелирных изделий, крупных монет и т.д. Современные инструментальные микроскопы (стереомикроскопы) широко применяются для выполнения сверхточных операций при исследовании небольших образцов. Такие приборы позволяют получить объемное изображение изучаемых предметов и с высокой точностью измерить размеры объекта. Сфера применения стереомикроскопов поистине огромна: при проведении научных исследований их используют археологи, технологи, ювелиры, коллекционеры, биологи и многие другие специалисты. Оптические элементы конструкции изготавливаются из специального стекла высокой прозрачности, что позволяет передавать качественное реалистичное изображение наблюдаемых объектов. Для регулировки резкости предусмотрена возможность грубой фокусировки – на корпусе микроскопа есть специальное колесико. При проведении исследований используется естественное освещение, поэтому вам не придется тратить средства на покупку батареек или аккумуляторов. Для максимального удобства при исследовании, можно развернуть предметный столик микроскопа белой или черной стороной вверх. Кроме того, предметный столик оборудован специальными зажимами для надежной фиксации микропрепарата. Технические характеристики Тип микроскопа: стереоскопические/инструментальные, портативные Тип насадки: бинокулярные Материал оптики: оптическое стекло Увеличение, крат: 40 Окуляры: WF10x Объективы: 4x Рабочее расстояние, мм: 60 Межзрачковое расстояние, мм: 60 Предметный столик, мм: с препаратодержателями, черно-белая двусторонняя пластина Диоптрийная коррекция окуляров, D: ±5 Фокусировка: грубая диапазон регулировки: 40 мм Подсветка: естественный свет Чехол: есть Угол наклона окулярной насадки: без наклона Назначение: для прикладных работ Расположение подсветки: верхняя Метод исследования: светлое поле Комплектация:
|
